扫描电镜（SEM）和透射电镜（TEM）是两种重要的电子显微镜技术，它们在结构、工作原理、分辨率、应用以及样品制备等方面存在显著差异。以下是它们的主要用途：

扫描电镜（SEM）的用途

观察样品表面形貌：SEM通过利用极细的电子束扫描样品表面，激发样品中的二次电子，形成与电子束同步的扫描图像。这些图像为立体形象，能够反映样品的表面结构、颗粒大小、分布以及表面缺陷等。

材料科学：用于观察固体表面的形貌、材料表面的粗糙度、污染物检测等。

生物医学：用于观察生物样品的表面结构，如细胞、组织等。

地质学：用于观察地质样本的表面特征，如岩石、矿物的表面形态等。

透射电镜（TEM）的用途

观察样品内部结构：TEM通过电子束在穿过样品时与样品中的原子发生散射，形成放大的实像。其分辨率可达0.1~0.2纳米，能够观察样品的内部结构、晶体结构、相变过程以及生物样品的超微结构等。

材料科学：用于观察材料的内部结构、晶体结构、缺陷和杂质等。

物理学：用于研究物质的微观结构和物理性质，如电子的波粒二象性、衍射现象等。

化学：用于研究物质的分子结构和化学键合情况。

生物学：用于观察生物大分子如病毒、细菌、细胞器等的超微结构。

总结：

扫描电镜（SEM）主要用于观察样品表面的形貌和结构，适用于材料科学、生物医学和地质学等领域。

透射电镜（TEM）主要用于观察样品的内部结构，适用于材料科学、物理学、化学和生物学等领域。

根据具体的研究需求和样品特性，可以选择合适的电镜技术以获得所需的微观结构信息。有时，将两者结合使用可以提供更全面的材料分析结果。